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ZEISS METROTOM 800工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: 無(wú)損掃描METROTOM800連續(xù)可調(diào)的運(yùn)行機(jī)構(gòu)通過(guò)連續(xù)可調(diào)的運(yùn)行機(jī)構(gòu),零件可任意放置在X射線通過(guò)的圓柱形測(cè)量范圍內(nèi)。按照零件投影作出調(diào)整,傳感器總能獲得較優(yōu)的...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2025-07-17 參考價(jià): 面議 在線留言 -
ZEISS SRE MAX工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: X射線屏蔽柜符合意大利法規(guī)(DPR257/2001)和的全屏蔽輻射設(shè)備法規(guī)。櫥柜獨(dú)立。采用鋼制造,具有完整的鉛屏蔽。機(jī)柜采用雙滑動(dòng)門設(shè)計(jì),用于鑄造裝載,帶有鉛/...
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ZEISS Xradia 510 Versa工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: 即使在較大的工作距離下也能實(shí)現(xiàn)多功能性-距離光源毫米到英寸利用ZEISSXradia510Versa3DX射線顯微鏡(XRM)實(shí)現(xiàn)新的發(fā)現(xiàn)水平,XRM是業(yè)界的原...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地: 更新時(shí)間:2025-07-17 參考價(jià): 面議 在線留言 -
ZEISS Xradia 410 Versa X工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: 彌補(bǔ)基于實(shí)驗(yàn)室的非破壞性亞微米顯微鏡的差距Xradia410Versa彌補(bǔ)了高性能X射線顯微鏡與功能不強(qiáng)的計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)系統(tǒng)之間的差距。Xradia41...
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ZEISS Xradia Context microCT工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: 蔡司XradiaContext是一種大視場(chǎng),非破壞性3DX射線微型計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)。借助*的平臺(tái)和靈活的軟件控制源/探測(cè)器定位,您可以在完整的3D環(huán)境中對(duì)大型...
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ZEISS Xradia 810 Ultra工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: 優(yōu)點(diǎn)在實(shí)驗(yàn)室中可獲得的分辨率-低至50納米的3DX射線成像非破壞性3DX射線成像允許對(duì)同一樣品進(jìn)行重復(fù)成像,以便直接觀察微觀結(jié)構(gòu)的演變吸收和Zernike相位對(duì)...
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ZEISS VoluMax工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: 高吞吐量的計(jì)算機(jī)斷層掃描檢查ZEISSVoluMaxCT系統(tǒng)專為必須快速檢查許多組件的應(yīng)用而設(shè)計(jì)。蔡司定制機(jī)器和軟件以適應(yīng)檢測(cè)工作。ZEISSVoluMax可配...
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ZEISS METROTOM 6 scout(GOM CT)工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: 蔡司高分辨率工業(yè)CT系統(tǒng)METROTOM6scout(GOMCT)以精細(xì)的細(xì)節(jié)數(shù)字化復(fù)雜零件,包括內(nèi)部幾何形狀。您將獲得用于GDamp;T分析或名義實(shí)際比較的完...
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ZEISS Xradia 515 Versa X工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: 蔡司X射線顯微鏡Xradia515Versa突破3D成像和原位/4D研究的微米級(jí)分辨率的成像壁壘。其高分辨率、高襯度以及靈活的工作距離下成像能力的組合,拓展了實(shí)...
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ZEISS METROTOM工業(yè)CT測(cè)量 詳細(xì)摘要: ZEI55 METROTOM1)水平圖像打展不適用于ZEISS METROTOM 6 scout2)GOM CT Professional僅適用于ZEISS M...
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